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隨著科技的發(fā)展,工業(yè)領(lǐng)域不斷在進(jìn)步,在半導(dǎo)體行業(yè)中,機(jī)器視覺(jué)的應(yīng)用已非常普遍,應(yīng)用范圍也越來(lái)越廣,涉及到半導(dǎo)體外觀(guān)缺陷、尺寸大小、數(shù)量、平整度、間隔、定位、校準(zhǔn)、焊點(diǎn)質(zhì)量、彎曲度等等的檢測(cè)和測(cè)量,根據(jù)圖像數(shù)據(jù)判斷找出缺陷產(chǎn)品
康耐德智能識(shí)別PCB混料視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)
康耐德智能的PCB混料視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)合字符識(shí)別與輪廓識(shí)別技術(shù),通過(guò)高精度硬件配置和智能算法,實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板元件的精準(zhǔn)檢測(cè),避免混料問(wèn)題。
康耐德智能半導(dǎo)體芯片視覺(jué)定位測(cè)量aoi系統(tǒng)
康耐德智能的半導(dǎo)體芯片視覺(jué)定位測(cè)量AOI系統(tǒng)結(jié)合了高精度光學(xué)檢測(cè)、機(jī)器視覺(jué)算法與自動(dòng)化控制技術(shù),專(zhuān)注于提升電子制造的芯片定位的精度,實(shí)現(xiàn)了對(duì)晶片大小、質(zhì)心點(diǎn)位置、旋轉(zhuǎn)角度以及 MARK 點(diǎn)位置等的準(zhǔn)確測(cè)量。
康耐德智能晶圓表面臟污及劃痕缺陷視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)
晶圓缺陷視覺(jué)檢測(cè)是半導(dǎo)體制造過(guò)程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),它能夠確保晶圓的良品率和生產(chǎn)效率。目前,機(jī)器視覺(jué)算法結(jié)合晶圓缺陷檢測(cè)方法因其普適性強(qiáng)、速度快而廣泛應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)中。
半導(dǎo)體晶片機(jī)器視覺(jué)測(cè)量及MARK點(diǎn)視覺(jué)定位--康耐德智能
對(duì)樣品進(jìn)行了光學(xué)實(shí)驗(yàn),并進(jìn)行圖像處理,原則上可以使用機(jī)器視覺(jué)進(jìn)行測(cè)試測(cè)量與定位。
載帶IC方向判斷機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)軟硬件方案--康耐德智能
· 可以自動(dòng)判斷其中是否有IC或判斷其中的IC是否上下反轉(zhuǎn)
· 可以自動(dòng)判斷正放的IC的水平方向是否正確
IC引腳位置度、金手指缺陷檢測(cè)視覺(jué)系統(tǒng)定制方案
可以檢測(cè)出金手指斷裂以及IC引腳位置度,具體還要以實(shí)際樣品缺陷為準(zhǔn),拍攝時(shí)產(chǎn)品必須要保持水平。
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